最直接的鍍膜控製方（fāng）法是石英晶體微量平衡法(QCM)，這種儀器可以直接驅動蒸發源，通過PID控製循環驅（qū）動擋板（bǎn），保持蒸發速率。隻要將儀器與係統控製軟件相連（lián）接，它就可以控製整個的鍍膜過（guò）程。但是(QCM)的精確度是有限的（de），部分原因是由於它監（jiān）控的是被鍍膜的質（zhì）量而不是其光學（xué）厚度（dù）。
    此外雖然QCM在較低溫度下非常穩定，但溫度較高時，它會變得對溫（wēn）度非常敏感。在長時間的加熱（rè）過程中，很（hěn）難阻止（zhǐ）傳感器跌（diē）入這個敏感區域，從而對膜層造成重大誤差。
    光學監控是高精密鍍膜的的首選監（jiān）控（kòng）方式（shì），這是因為它可以更精確地控製膜（mó）層厚度(如果運用得當)。精確度的改進源於很多因素,但最根本的原因是對光學厚度的（de）監控。
    OPTIMAL SWA-I-05單波長光學監控（kòng）係（xì）統，是采用（yòng）間接測控，結合汪博士開發（fā）的先進光（guāng）學監控軟件，有效提高光學反應對膜厚度變化靈敏度的理論和方法（fǎ）來減少終極誤差，提供了反饋或傳輸的選擇模式和大範圍的監測波長。特別適合於各種膜厚的鍍膜監控包括非規整膜監控。

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